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原位解決方案-光電性質測試系統

簡要描述:原位解決方案-光電性質測試系統(非定量力+電+光+三維操縱)在標配TEM-STM樣品桿內集成光纖單元,配合外接光譜儀或激光器實現光電測量或者CL測量。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2025-07-11
  • 訪  問  量:1369

詳細介紹

產品描述

PicoFemto透射電鏡原位光電性質樣品桿(非定量力+電+光+三維操縱)在標配TEM-STM樣品桿內集成光纖單元,配合外接光譜儀或激光器實現光電測量或者CL測量。


• 光纖指標

△ 光纖外徑250um,保證電鏡系統真空指標;

△ 可選光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡;

△ 可選SMA接頭、FC接頭。


• 產品特色

△ 集成光學模塊,可應用于CL光譜、光電探測及電致發光光譜等研究;

△ 光電一體化解決方案,具有高拓展性;

△ 高穩定性,保證電鏡原有分辨率;

△ 超長的壽命:

△ 超低維護成本:設備配套的針尖制備系統可低成本制備針尖耗材。"爪-球“微動結構已實現模塊化量產,維護成本低;

△ 龐大的用戶群:在國內擁有近200個高質量原位用戶,出口到歐美澳等地。每年,用戶會產出大量高質量研究成果。定期組織各類用戶交流活動,搭建學術平臺供用戶交流;

△ 成熟的技術支持網絡:在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司,其他各地擁有若干技術支持網點,24小時提供技術支持



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