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  • 原位STM-TEM光電一體測量系統

    PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量

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    產品價格：面議
    廠商性質：代理商
    更新日期：2025-07-11
  • 原位STM-TEM低溫電學測量系統

    PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量

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    廠商性質：代理商
    更新日期：2025-07-11
  • TEM原位高溫力學測量系統

    TEM原位高溫力學測量系統 PicoFemto透射電鏡原位高溫力學測量系統，同時集成了力學測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進行定量的力學測量。

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    更新日期：2025-07-11
  • 原位MEMS-STM-TEM多場測量系統

    MEMS-STM-TEM PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統，該產品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括力、熱、光、電等）

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    更新日期：2025-07-11
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